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SICK緊湊型伺服反饋編碼器檢測方式,THTE-1PA542006MZ

SICK緊湊型伺服反饋編碼器檢測方式,THTE-1PA542006MZ

  • 所屬分類:SICK(施克)傳感器
  • 瀏覽次數(shù):
  • 發(fā)布日期:2017-01-13
  • 產(chǎn)品概述
  • 性能特點
  • 技術參數(shù)

SICK緊湊型伺服反饋編碼器檢測方式,THTE-1PA542006MZ


較大要求速率 ≤ 60 /min (EN ISO 13849) 3)能等級 PL c (EN IS

5) 亮暗對比度為 1:1 時于 0°C 時導線不能發(fā)生形變

供電電壓 10 V DC ... 30 V DC 1電流消耗 ≤ 30 mA 3)

電 話:021-39529830轉(zhuǎn)8009

手 機;18917074297

企業(yè)QQ;2880626083

郵箱;18917074297@163.com

開關類型可選明通/暗通開關可選信號電壓

1) 僅在與合適的 Flexi Classic或者 Flexi Soft.

SICK緊湊型伺服反饋編碼器檢測方式,THTE-1PA542006MZ

8 A.不得過或于 UV公差.無負荷信號傳輸時電阻負載時

測試速率(外部測100 /s (EN ISO 13849) 2) 

0mA響應時間 ≤ 0.5 ms 4) 殘余紋波 ± 10 % 2

開關量輸出 PNP,集電極開路開關類型明/暗切換 

7) A = UV 接口(已采取反極性保護措施)B 

具有反極性保護的輸入端和輸出端.抗過載電流和短路保護輸出端

5) Brightness and darkness Contrast 

PNP高電平/電平 UV - 1,8 V出電流Imax.存儲環(huán)境溫度

Supply voltage 10 V DC ... 30 V DC 1) Res

idual ripple ± 10% 2) Current consumption ≤ 30 mA 3)

13849) 1)PFHD每小時危險失效率1.0 x 10-6

(EN ISO 13849) 1) TM(持續(xù)運行時間)20年(EN ISO 13849) 

不能過測試比率.在兩次對與of 1: 1 at 0 °C when the wire can not be

SICK緊湊型伺服反饋編碼器檢測方式,THTE-1PA542006MZ

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