不會(huì)受不同材質(zhì)或受光過(guò)多導(dǎo)致的光量變動(dòng)影響。
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降決定測(cè)量精度的不同物體之間的差異。
因此,可以更方便地應(yīng)用于檢測(cè)對(duì)象物。
密封調(diào)和器的高度控HDD用電機(jī)旋轉(zhuǎn)座的光盤播放檢查
須在的電源電壓使用,否則會(huì)燒壞產(chǎn)品。
電網(wǎng)電壓不太好的情況下,盡可能供給額定電壓電源。
為防備外部配線短路,必須有斷路器等安全措施。
為了防止信號(hào)線的短路,瞬時(shí)停電異常信號(hào)而造成的不良后果
應(yīng)在PC的外部電路中設(shè)置失效保護(hù)的措施。
行業(yè)首創(chuàng)的1,500mm長(zhǎng)距離檢測(cè),可以測(cè)量以往無(wú)法測(cè)量的點(diǎn)。
注:此功能可能在明亮環(huán)境中.可穩(wěn)定測(cè)量?jī)A斜工件和移動(dòng)工件。
專門為ZS-HLDS2VT開發(fā)的非球面透鏡,采用的光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)適用于
大分辨率達(dá)0.25 μm。 較大響應(yīng)速度達(dá)110 μs。持并行輸出穩(wěn)定性
較佳尺寸/穩(wěn)定傳感器尺重視性能的較佳傳感器頭尺寸和3點(diǎn)式固定構(gòu)造確
保出眾的傳感穩(wěn)定注:ZS-HLDS2T 不可的移動(dòng)分辨視分辨率提升
在半導(dǎo)體晶圓片、玻璃等要求精度高的測(cè)量上具有壓倒性的YS。
動(dòng)分辨率誤差(因工件表面位置引起的誤材質(zhì)間誤差降2維CMOS
CCD在受光量過(guò)多時(shí)電荷會(huì)溢出至相鄰的像素。CMOS避免了這種現(xiàn)象
為了防止在運(yùn)行時(shí)發(fā)生短路和失控,請(qǐng)務(wù)必在PC的外部電路中設(shè)置聯(lián)鎖電路和限位電路。
通過(guò)提高受光透鏡的靈敏度和分辨率,使光學(xué)系統(tǒng)較優(yōu)化,從而大幅度降移
正反射工件。顯著擴(kuò)大了允許傾斜的角度,并提高了測(cè)量透明工件和正反射工件的穩(wěn)定性。
請(qǐng)點(diǎn)擊此處,查看大圖。 .令人難以置信的測(cè)量精度0.25μm,同級(jí)產(chǎn)品的較高水平。
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